FEI Talos F200X透射電子顯微鏡是一個真正的多功能、多用戶環(huán)境200kV現(xiàn)場發(fā)射透射電子顯微鏡。儀器配備了STEM、EDX、HAADF、CCD可收集等附件TEM明場、暗場和高分辨率圖像可以進行選區(qū)電子衍射和匯聚束衍射，EDX能譜分析和高分辨率STEM分析原子序數(shù)像，STEM結(jié)合EDX微區(qū)能譜分析可用于點、線、面掃描。該儀器還配備了相關(guān)的樣品設(shè)備，包括Gantan691離子減薄器、磁性雙噴電解減薄器、凹坑儀等，可對金屬、生物、聚合物材料等樣品進行制樣。

   

可以用它來做

   

形貌分析

   

樣品的形狀、粒徑、分散性等相關(guān)信息可以通過形狀分析獲得，樣品的質(zhì)厚襯里像和衍襯像可以通過明場像和暗場像進一步表征。

   

結(jié)構(gòu)分析

   

觀察和研究材料結(jié)構(gòu)，并對納米尺度進行微分析，如：高分辨率晶格條紋圖像、選區(qū)電子衍射、聚束電子衍射等。

   

   

成分分析

   

可以分析小到幾納米的微區(qū)域或晶粒的成分，有選擇地對樣品進行能譜點測量、能譜線掃描和能譜面分布分析，以獲得樣品中元素在一個點、一條線和一個表面的分布。

   

電鏡完全數(shù)字化，直接由計算機控制。高分辨率分析系統(tǒng)完整、穩(wěn)定、靈活?？伸`活切換多用戶界面、控制板表面和各種功能模式。中科百測配備了儀器STEM,EDX,CCD,HAADF可收集多種附件TEM明場、暗場和高分辨率圖像可以進行選區(qū)電子衍射和匯聚束衍射，EDX能譜分析和高分辨率STEM分析原子序數(shù)像，STEM結(jié)合EDX微區(qū)能譜分析可用于點、線、面掃描。中科百測透射電子顯微鏡實驗室還配備了一套包括GATAN離子減薄儀，LEICA冰凍超薄切片機、磁性雙噴電解減薄器、凹坑儀等。，可用于生物、聚合物材料和金屬樣品的透射電子顯微鏡制樣。

   

儀器的使用范圍

   

廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體材料、聚合物材料、陶瓷、納米材料等領(lǐng)域。它是研究各種材料超顯微結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系不可或缺的工具。